我校擬對(duì)一套四探針測(cè)量儀公開招標(biāo)采購，詳細(xì)技術(shù)要求如下：
使用目的：為了測(cè)量各種薄膜和半導(dǎo)體材料的方塊電阻率、方塊電阻、電導(dǎo)率和電阻ZAO薄膜是一種很好的透明導(dǎo)電薄膜，它的光學(xué)特性和電學(xué)特性，使它在很多方面都有了廣泛的應(yīng)用。其導(dǎo)電性能要通過四探針測(cè)量儀測(cè)量其面電阻確定，透光性可通過分光光度計(jì)來測(cè)量。由于實(shí)驗(yàn)室和課題組的需要，需要購買一套測(cè)量薄膜電阻率和薄膜方塊電阻的設(shè)備，即四探針測(cè)量儀，下面是一些技術(shù)指標(biāo)：
1） 測(cè)量范圍：電阻率：10-4～105 Ω.cm；
方塊電阻：10-3～106 Ω/□；
電導(dǎo)率：10-5～104 s/cm；
電阻：10-4～105 Ω；
2）電流量程可在1μA到100mA之間可調(diào)；
3）四探針探頭基本指標(biāo)：間距：1±0.01mm；
針間絕緣電阻：≥1000MΩ；
機(jī)械游移率：≤0.3%；
探針：碳化鎢或高速鋼Ф0.5mm；
探針壓力：5～16 牛頓(總力)；
4）測(cè)量精度：≤±0.5%瀆值±2個(gè)字；
5）探針之間的距離：1±0.01mm；
6）數(shù)字電壓表量程：0—199.9mV 靈敏度：100μV 輸入阻抗：1000ΜΩ
基本誤差為：0.4-0.5%讀數(shù)+0.1%滿度
7）探針：碳化鎢或高速鋼Ф0.5mm；
8）計(jì)算機(jī)，打印機(jī)；
9）測(cè)量結(jié)果不受氣候條件的影響。
歡迎有投標(biāo)意向的廠家或商家，攜帶有關(guān)資質(zhì)證明復(fù)印件和招標(biāo)費(fèi)用到我校國資處設(shè)備科報(bào)名。
報(bào)名截止日期：20010年11月11日下午4時(shí)
報(bào)名地點(diǎn)：西安工業(yè)大學(xué)未央校區(qū)行政樓501室
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